日本理學波長型x射線熒光光譜儀

ZSX Primus III+日本理學波長型x射線熒光光譜儀，快速定量元素分析的高性能WDXRF！

理學ZSX Primus III+日本理學波長型x射線熒光光譜儀提供主要和次要原子元素的快速定量測定，從氧（O）到鈾（U）的低標準的廣泛樣品類型。

1、從O到U的元素分析

2、上照射式光學小化污染

3、小占地面積節省實驗室空間

4、高精度樣品定位

5、特殊光學減少由于彎曲的樣品表面造成的錯誤

6、統計過程控制（SPC）的軟件工具

7、優化抽空和真空泄露率改善吞吐量

用戶使用EZ掃描軟件可以在無需任何事先設置即可分析位置樣品。這個節省時間的特征僅需點擊鼠標和輸入樣品名稱。結合SQX基本參數軟件，快速提供準確的XRF結果。SQX能夠自動校正包括線重疊的所有矩陣效果。SQX還可以通過光電子（輕、超輕元素）、變化的環境、雜質和不同的樣品尺寸校正輔助的激發效應。使用匹配庫和完美的掃描分析程序提高準確性。

高精度樣品定位確保了樣品表面與X設吸納管之間的距離恒定。這對例如合金分析等需要高精度的應用非常重要。ZSX Primus III+使用一個獨特的光學配置執行高精度分析，用于減少由于例如電熔銖和壓片等樣品中的非平面表面導致的錯誤。

 ZSX Primus III+理學波長色散型X射線熒光光譜儀具有場新的上照射式光學配置。用戶再也不用擔心由于維護樣品室導致的路徑污染或停止時間。上照射式幾何結構消除了清掃的擔心并增加了時間。