主營產品:X射線熒光光譜儀
ZSX Primus III+日本理學波長型x射線熒光光譜儀,快速定量元素分析的高性能WDXRF!
理學ZSX Primus III+日本理學波長型x射線熒光光譜儀提供主要和次要原子元素的快速定量測定,從氧(O)到鈾(U)的低標準的廣泛樣品類型。
1、從O到U的元素分析
2、上照射式光學小化污染
3、小占地面積節省實驗室空間
4、高精度樣品定位
5、特殊光學減少由于彎曲的樣品表面造成的錯誤
6、統計過程控制(SPC)的軟件工具
7、優化抽空和真空泄露率改善吞吐量
用戶使用EZ掃描軟件可以在無需任何事先設置即可分析位置樣品。這個節省時間的特征僅需點擊鼠標和輸入樣品名稱。結合SQX基本參數軟件,快速提供準確的XRF結果。SQX能夠自動校正包括線重疊的所有矩陣效果。SQX還可以通過光電子(輕、超輕元素)、變化的環境、雜質和不同的樣品尺寸校正輔助的激發效應。使用匹配庫和完美的掃描分析程序提高準確性。
高精度樣品定位確保了樣品表面與X設吸納管之間的距離恒定。這對例如合金分析等需要高精度的應用非常重要。ZSX Primus III+使用一個獨特的光學配置執行高精度分析,用于減少由于例如電熔銖和壓片等樣品中的非平面表面導致的錯誤。
ZSX Primus III+理學波長色散型X射線熒光光譜儀具有場新的上照射式光學配置。用戶再也不用擔心由于維護樣品室導致的路徑污染或停止時間。上照射式幾何結構消除了清掃的擔心并增加了時間。